膜厚分析儀根據(jù)測(cè)量原理可以分為這幾種類型
更新時(shí)間:2022-08-28 | 點(diǎn)擊率:1785
膜厚分析儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型:
1、磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測(cè)量精度高
2、渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種方法較磁性測(cè)厚法精度低
3、超聲波測(cè)厚法:目前國(guó)內(nèi)還沒有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的,個(gè)別有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無法測(cè)量的場(chǎng)合。
4、電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測(cè),需要破壞涂鍍層。一般精度也不高,測(cè)量起來較其他幾種麻煩。
膜厚分析儀的性能特點(diǎn):
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求;
小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求;
移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度?。?/div>
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度;
定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊;
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn);
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加;
良好的射線屏蔽作用;
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。
膜厚分析儀具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
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